研发实验室量测区设备：霍尔测试系统

设备编号：HAL01

设备名称：霍尔测试系统

设备型号：Lakeshore M91-HR

主要功能：使用霍尔效应测量半导体材料的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等参数。

技术指标：

1）2 cm正方形或更小；

2）电阻测量范围：10mΩ到100GΩ；

3）迁移率测量范围：1E-3 cm²/V-1E6 cm²/V；

4）载流子浓度测量最小值：1E17/cm²；

5）变温测试：77 K-400 K。